KSV NIMA LB 膜分析仪
KSV NIMA LB膜分析系统是由计算机控制的高性能的LB镀膜系统,其应用广泛、操作灵活。 系统结构模块化,可扩展升级的硬件和软件;整个系统框架型结构,允许添加其它附属装置,例如:可以与布鲁斯特角显微镜BAM联用;高质量的硬质熔结槽体;可进行膜的荧光
JW-004氮吸附比表面积测定仪
本机可以同时应用两种方法测定比表面积,用"直接对比法"与JW-04型完全相同,还可应用BET方法,以定量体积的氮气为标样,通过BET方程求出被测样的比表面积。这种方
光学探针双模式轮廓仪/三维形貌仪
NANOMAP D光学双模式轮廓仪/三维形貌仪集白光干涉非接触测量法和大面积SPM扫描探针接触式高精度扫描成像于一个测量平台。是目前功能全面,技术先进的表面三维轮廓测量显微镜。既有高精密度和准确度的局部(Local)SPM扫描,又具备大尺度和高测量速度;既可用来获得样
比表面积测定仪F-Sorb 2400-金埃谱
F-Sorb X400系列比表面积及孔径(孔隙度)分析测试(测定)仪是北京金埃谱科技公司与兵器系统研究机构合作研发的新一代产品,可完全实现测试过程的自动化和智能化,显著提高测试效率.